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sQUBE
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 SurfaceScienceSupport 

Über uns

Das sQUBE-Team besteht aus Physikern und Ingenieuren. Uns kennzeichnet mehrjährige Erfahrung in unterschiedlichen Forschungsbereichen und -einrichtungen, ein breiter Erfahrungshorizont und Spezialwissen in Techniken der Oberflächenanalyse. Eingebunden in ein Netzwerk haben wir ständigen Kontakt zu aktuellen Forschungsschwerpunkten und Entwicklungen. Wir stellen uns gerne neuen Herausforderungen.

Produkte

Collodial Probes

Wir bestücken Cantilever mit Partikeln Ihrer Wahl, um interpartikuläre Kräfte zwischen Partikeln und Oberflächen messen zu können. Sie können aus einer Auswahl unterschiedlicher Partikel auswählen. (SiO2, Borosilikatglas, Gold, Polystyrol, Polymethylmethacrtylat) oder uns Ihre speziellen Partikel zusenden. Partikeldimensionen im Submikrometerbereich bis Mikrometerbereich sind möglich. Bitte kontaktieren Sie für Standardproben unseren Vertriebspartner NanoAndMore GmbH.

Optische Mikroskopie

Rasterkraft- mikroskopie

Rasterelektronen- mikroskopie

Bei speziellen Anforderungen (chemische Modifikationen/ Vorbehandlung) an die Partikel beraten wir Sie gerne ausführlich. Für die Bestimmung geometrischer Parameter der fixierten Partikel stehen unterschiedliche Methoden zur Auswahl:

  • optische Mikroskopie
  • Raserkraftmikroskopie (AFM)
  • Rasterelektronenmikroskopie (REM)

Kalibrierte Cantilever

Zur Quantifizierung der Kräfte zwischen Probe und Oberfläche ist die individuelle Bestimmung der Federkonstante von Cantilevern von grundlegender Bedeutung. Dieser Wert geht in die Berechnung der Oberflächenenergie, des Elastizitätsmoduls sowie der Adhäsionskraft ein.

Auf Wunsch können die Cantilever bei sQUBE individuell kalibriert werden.

Wir kalibieren auch die Trosionale Federkonstante von Cantilevern zur Durchführung quantitativer Reibungsmessungen.

Cantilever_optisch

Cantilever

Service

Rasterkraftmikroskopie

Die Technik der Rasterkraftmikroskopie nutzt die Verbindung von einer hochsensitiven Messspitze mit Spitzenradien im Nanometerbereich mit der präzisen Positionierungsmöglichkeit durch piezoelektrische Elemente.

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Lodide

Hochauflösende Abbildungen:

Die Methode der Rasterkraftmikroskopie ermöglicht die bildliche Darstellung von Oberflächen mit einer Auflösung bis in den atomaren Bereich. Die so gewonnene dreidimensionale Information lässt sich vielfältig auswerten.

AFM_02_crop

AFM

AFM_03_cropped

AFM

Kraftmessungen:

Oberflächeneigenschaften, wie die Adhäsion oder das Zetapotential (Oberflächenladung) lassen sich auch mittels Kraftmessungen untersuchen. Informationen werden gewonnen anhand der Kräfte die nötig sind, eine Messspitze von der Oberfläche zu lösen, bzw. sich dieser anzunähern. Äußere Parameter (Temperatur, Umgebungsatmosphäre,…) lassen sich dabei definiert variieren.

Kraftmessungen zwischen Partikeln in Mikrometerbereich

Auch Kräfte zwischen individuellen Partikeln, bzw. Partikeln und Oberflächen können gemessen werden. Damit lassen sich die Einflüsse von Oberflächenmodifikationen auf Prozessabläufe direkt analysieren, beispielsweise Haftungseigenschaften an den Wänden von Dispergierern (pharmazeutische Anwendung), oder Oberflächenmodifikationen zur Erleichterung von Reinigungsprozessen (Lotus-Effekt).

REM_Agglomerate

REM Agglomerate

Optische Mikroskopie

Diese optische Methode basiert auf der konfokalen Multi-Pinhole-Technik und ermöglicht die berührungslose 3D-Charakterisierung komplexer Oberflächen mit hoher vertikaler (bis 2 nm) und lateraler (bis 300 nm) Auflösung. Neben Abbildungen in unterschiedlichen Vergrößerungen in Auf- /Durchlicht, sind ebenso Laserrasterverfahren anwendbar, um 3D-Profile abzubilden

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Optische Profilometrie

Kontaktwinkelmessungen und Bestimmung der Oberflächenenergie von Festkörpern und Flüssigkeiten

Der Kontaktwinkel zwischen einer Flüssigkeit und einer Oberfläche ist ein Maß für die Benetzbarkeit der Oberfläche. Er quantifiziert somit die energetische Wechselwirkung zwischen diesen. Bestimmt wird er meist optisch nach der Sessile Drop Methode. Der Kontaktwinkel hängt von der chemischen Zusammensetzung der Oberfläche (entscheidend sind hierbei die äußeren 0,5 bis 1 nm der Grenzphase) und von ihrer Topographie ab. Der Kontaktwinkel ist damit ein Messwert, der für sehr kleine Veränderungen an der Oberfläche empfindlich ist. Durch die Messung der Kontaktwinkel von Testflüssigkeiten mit unterschiedlichen Polaritäten kann die Oberflächenenergie der Festkörpers unter Berücksichtigung seiner polaren und dispersen Anteile bestimmt werden.

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Sessile Drop

Beratung

Begleitung von Projekten aus dem Forschungs- und Entwicklungsbereich

sQUBE bietet Ihnen Unterstützung im Projektmanagement an. Ob Sie sQUBE bereits in der Planungphase mit einbeziehen oder Begleitung in einer späteren Phase des Projekts benötigen – durch unsere Erfahrung geben wir neue Impulse.

 

Technologieberatung

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Bubble On Canti

Benötigen Sie Informationen zu Geräten oder Messtechniken aus dem Bereich der Oberflächenanalytik:

  • Rastermikroskopie
  • Kraftspektroskopie
  • Eliipsometrie
  • Elektronenmikroskopie
  • Kontaktwinkelbestimmung

Welche Techniken stehen zur Verfügung, welche Aussagen lassen sich gewinnen, welche Informationen sind für Sie relevant?

sQUBE steht Ihnen kompetent mit Expertise zur Verfügung.

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Tropfen

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SiO2 NCH

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Drop Impact

NanoAggloSEM

Nano Agglo SEM

Schulung

sQUBE bietet Seminare und In-House-Schulungen zu Themen der Oberflächenanalytik und Instrumentation, zugeschnitten auf Ihre Bedürfnisse, an.

Kontakt

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